| Производитель: | Seba |
| Категория: | Анализаторы сетевых протоколов |
| В наличии: | у 1 поставщика |
KMK 8 – легкий переносной прибор, предназначенный для оценки состояния кабелей, для контроля, поиска повреждений и для аттестации кабелей связи.
KMK 8 на основе запрограммированных параметров, заданной или измеренной температуры кабеля рассчитывает длину кабеля и расстояние до повреждения.
КМК 8 располагает графическим дисплеем, легким в обслуживании меню и многосторонней системой помощи. Результаты измерений можно сохранить во внутреннем ЗУ, передать на ПК или USB-флешку в виде PDF или Excel файла.
Питание от встроенного NiMH аккумулятора, который можно подзаряжать от аккумулятора автомобиля (12 V DC) или от внешнего зарядного устройства 230 В.
| Импульсный рефлектометр | |||
| Диапазоны измерения | |||
| Для непупинизированных кабелей V/2=100) | 16 м … 32 км | ||
| Обработка результатов измерения | |||
| Курсором и маркером | в метрах | ||
| Обновление графика измерения | ~4 раза/сек. | ||
| Функция Zoom | Максимум 16 | ||
| Погрешность | |||
|
Локализация повреждений |
0.2 % от изм. диапазона | ||
| 0.01 м | |||
| Разрешение | |||
| Скорость распространения импульса | |||
| Для непупинизированных кабелей | |||
| V/2 | 45 … 149 м/мкс | ||
| NVP | 30 … 99 % | ||
| Для пупинизированных кабелей | |||
| V/2 | 1.2 … 30 м/мкс | ||
| NVP | 0.8 … 20 % | ||
| Характеристика импульсов | |||
| Ширина для непуп.кабелей |
4 нс … 6 мкс |
||
| Ширина для пупин.кабелей | 330 мкс | ||
| Амплитуда | 1.3 … 12 В на 120 Ом | ||
| Подключение кабельной линии | |||
| Импеданс | 120 Ом симметричный | ||
| Регулировка баланса | 50 … 270 Ом | ||
| Регулировка усиления | |||
| Диапазон настройки | 0 … 90 дБ | ||
| Шаг | 6 дБ/шаг | ||
| Корректировка амплитуды в зависимости от расстояния | |||
| Ступени | 10 | ||
| Активный измерительный мост | |||
| Измерение напряжения помех | |||
| Постоянное напряжение | 0 … 400 В | ||
| Переменное напряжение | 0 … 250 В | ||
| Погрешность | ±3 % ±1 В | ||
| Диапазон частот | 15 … 300 Гц | ||
| Входное сопротивление | 2 MОм | ||
| Сопротивление шлейфа | |||
| Измерительный диапазон | 1 Ом … 10 кОм | ||
| Погрешность при >100 Ом | ±0.3 % ±0.1 Ом | ||
| Омическая ассиметрия | |||
| Сопротивление шлейфа | 10 Ом … 5000 Ом | ||
| Погрешность | ±0.2 % от Rs ±0.2 Ом | ||
| Сопротивление изоляции | |||
| Измерительный диапазон |
10 кОм … 300 MОм |
||
| Измерительное напряжение | 100 В | ||
| Погрешность | ±2 … 5% ±1 кОм | ||
| Емкость | |||
| Измерительный диапазон |
10 нФ … 2 (10) мкФ |
||
| Измерительное напряжение | 11 Гц, 100 В | ||
| Погрешность | ±2 % ±0.2 нФ | ||
| Емкостная ассиметрия | |||
| Измерительный диапазон |
10 нФ … 2000 нФ |
||
| Измерительное напряжение | 11 Гц, 100 В | ||
| Погрешность Lx/L | ±0.2 % | ||
| DC локализация повреждений | |||
|
Методы |
Мюррей, Кюпфмюллер, 3 точки | ||
|
Диапазон сопротив.шлейфа |
1 Ом … 10 кОм | ||
| Диапазон сопр.повреждения | До 100 MОм | ||
| Измерительное напряжение | 100 В | ||
| Погрешность | (Rs = 2 кОм, Lx/L=0,1 … 1) | ||
| Сопротивление повреждения | |||
| < 1 MОм |
± 0.2 % |
||
| 1 MОм … 5 MОм |
±0,3 % |
||
|
5 MОм … 25 MОм |
± 0.5 % |
||
| 25 MОм … 100 MОм |
2% |
||
| AC локализация повреждений: обрыв жилы | |||
| Измерительный диапазон | до 20 км (зав.от типа кабеля) | ||
| Погрешность | ±2 % ±0.2 нФ | ||
| Пассивный измерительный мост | |||
| Сопротивление шлейфа | |||
| Измерительный диапазон | 1 Ом … 10 кОм | ||
| Погрешность | ±0.3 % ±0.3 Ом | ||
| Сопротивление изоляции | |||
|
Режимы работы |
Быстрое измерение, Измерение качества | ||
| Измерение качества | |||
|
Быстрое измерение |
10 кОм … 300 MОм | ||
|
Измерение качества |
до 10 ГОм | ||
| Измер.напряжение | 100 В | ||
|
Погрешность |
|
||
|
10 кОм … 50 MОм |
5 % ±1 кОм |
||
|
50 MОм … 100 MОм |
10% |
||
|
100 MОм … 5 000 MОм |
20% |
||
|
5 000 MОм … 10 000 MОм |
30% | ||
| Омическая ассиметрия | |||
|
Сопротивление шлейфа |
1 Ом … 5000 Ом | ||
|
Погрешность |
±0.2 % от Rs ±0.2 Ом | ||
| Разрешение Lx/L (Mk)-знач. | |||
|
В диапазоне ∆R <10 % |
1/10000 | ||
|
В диапазоне ∆R >10 % |
1/1000 | ||
| DC локализация повреждений | |||
|
Методы |
Муррей, Кюпфмюллер, 3 точ | ||
| Диапазон сопр.повреждения | 1 Ом … 10 кОм | ||
| Измерительное напряжение | 100 В | ||
| Погрешность | (Rs = 2 kОм, Lx/L=0.1… 1) | ||
|
Сопротивление повреждения |
|||
| < 1MОм | 0.2 % | ||
|
1 MОм … 5 MОм |
0.3 % | ||
|
5 MОм … 25 MОм |
0.5 % | ||
|
25 MОм … 100 MОм |
2% | ||
|
Разрешение Lx/L(M)знач. |
1/1000 | ||
| AC локализация повреждений: метод Кюпфмюллера | |||
|
Диапазон сопротив.шлейфа |
1 Ом … 10 кОм | ||
| Диапазон сопр.повреждения | до 25 MОм | ||
|
Измерительное напряжение |
11 Гц, 100 В | ||
|
Погрешность |
(Rs = 2 кОм, Lx/L=0.1 … 1) | ||
|
Сопротивление повреждения |
|||
|
< 1MОм |
±0.3 % | ||
|
1 MОм … 5 MОм |
±0.5 % | ||
|
5 MОм … 25 MОм |
±1.0 % | ||
|
Разрешение M значения |
1/1000 | ||
| Емкостная ассиметрия переменным током | |||
|
Диапазон измерения |
10 нФ … 2000 нФ | ||
|
Погрешность знач. Lx/L |
±0.2 % | ||
|
Измерительное напряжение |
11 Гц, 100 В | ||
| Разрешение значения Lx/L | |||
|
В диапаз. Lx/L=0.9 … 1.1 |
1/10000 | ||
|
В диапаз. Lx/L<0.9Lx/L>1.1 |
1/1000 | ||
| Локализация повреждений: метод Граафа | |||
| Диапазон сопротив.шлейфа | 10 Ом … 10 кОм | ||
|
Диапазон тока |
5мкA … 1A | ||
| Погрешность (I>10 мкA) |
±0.3 % … ±2 % |
||